ניתוח כשלים במעגלים מודפסים וברכיבים

סוג הפעילות

מפגש

מועד הפעילות

25/02/08

מקום הפעילות

בית חיל האוויר , הרצליהמפה מצורפת

מרצים

רוברטו טולמן , אלי איסקביץ

תיאור המפגש

מפגש זה הינו מפגש נוסף בסדרת המפגשים בנושאי ליקויים וכשלים במעגלים מודפסים והרכבות אלקטרוניות.
המפגש הפעם יוקדש לניתוח סוגי כשלים וליקויים אופיניים במעגלים מודפסים - כולל השלכות על התיכנון , וכן איפיון מנגנוני כשל ובדיקתם - הן במעגלים עצמם והן ברכיבים בהרכבות אלקטרוניות.

סדר היום:

13:45-14:00

התכנסות ופתיחה

14:00-15:30

• ניתוח כשלים במעגלים מודפסים ותכן לייצוריות (DFM)

• גורמים לתקלות בכרטיס המודפס ה"ערום" והמורכב

• תכן לייצוריות כגורם להקטנת תקלות בייצור הכרטיס המודפס

רוברטו טולמן, אלטק

15:30-15:45

הפסקה

15:45-17:15

ניתוח כשלים:

• הגדרת כשל, בדיקות הרס ואל-הרס

• ניתוח דוגמאות מהחיים:

• ברמת הרכיב

• ברמת המעגל המודפס

• ברמת הרכבה האלקטרונית

אלי איסקביץ, ITH

קהל יעד

מנהלי פרוייקטים, מנהלי איכות ואמינות, מנהלי פיתוח, מנהלי תפעול וייצור ומנהלי תהליך.

בברכה

משה סלם - מנכ"ל אילטם

קישורים רלוונטיים

רוברטו טולמן , אלי איסקביץ
הורד קובץ הזמנה
שאל את המומחה